采用采用PEM相位調制技術,在142-2100 nm范圍內,可對薄膜、液體等材料的薄膜厚度和光學常數...
采用光譜反射技術實現nm到mm級薄膜厚度測量的單點光學膜厚測試系統。
采用光譜反射技術實現nm到mm級薄膜厚度測量的顯微光學膜厚測試系統。
采用光譜反射技術實現nm到mm級薄膜厚度測量的自動光學膜厚測試系統。
以真空鍍膜為設計目標,可便捷獲得反射和透射光譜并進行低/高分析、確定 FWHM 并進行顏色分析。
SPA-4000棱鏡耦合儀利用波導耦合原理可以測量薄膜或體塊材料的折射率和薄膜厚度以及其熱光系數,波...
采用光譜反射技術,在線監測沉積率、沉積層厚度、光學常數和半導體以及電介質層的均勻性。
增加了許多用于生產環境的功能,不同的F60儀器可根據波長范圍加以區分。
采用光譜反射技術實現nm到mm級薄膜厚度測量的單點光學膜厚測試系統。