Swift原位拉伸樣品臺可用于在掃描電子顯微鏡或其他成像分析系統中觀察樣品在負載下的微觀結構
基于透射電子顯微鏡的原位微納米力學樣品桿,將三維重構與原位光學、 力學和電學等原位加載功能結合
在微/納尺度范圍內的加載和位移構成良好的力學測試
微納米壓痕儀,1000mN
臺式納米壓痕儀, 符合任何實驗室的預算
SEM原位納米力學測試系統
Duramin-40 – 半自動和全自動微觀/宏觀測試儀。
FT-MTA03微納米力學測試/操作系統是一種多功能的測試儀器。
FT-NMT04是瑞士FemtoTools公司研發的一款原位納米壓痕儀。 FT-NMT04納米力學性...