P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
測量幾納米到1200μm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力測量。
測量幾納米到1000um的臺階高度、粗糙度、應力。
測量幾納米到1200μm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力測量。
P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,掃描達200mm,無需圖像拼接測量。
P-170結合P-17和HRP?-260的機械傳送臂,提供低擁有成本,適用于半導體,化合物半導體和相...