首頁 >產品中心>全自動AFM
針對全自動工業級線上,適用于長形條、磁頭萬向節組件(HGA)級以及單滑塊沉降自動測量
晶圓廠具有自動缺陷檢測的AFM,高精度探針針尖變量的亞埃級表面粗糙度測量
NX-HDM原子力顯微鏡具有業界低0.5埃噪音,實現亞埃級表面粗糙度的測量。
NX-3DM是專為垂懸輪廓、高分辨率側壁成像和臨界角的測量而設計的全自動、工業級原子力顯微鏡。