<noframes id="fv3t5">
<menuitem id="fv3t5"></menuitem>

<p id="fv3t5"></p>

<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"></output></pre>
<p id="fv3t5"></p>

<p id="fv3t5"><output id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></output></p>
<p id="fv3t5"></p>
<pre id="fv3t5"></pre>
<pre id="fv3t5"></pre>

<noframes id="fv3t5"><p id="fv3t5"><delect id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></delect></p>

<address id="fv3t5"><p id="fv3t5"></p></address>

<pre id="fv3t5"><p id="fv3t5"></p></pre><noframes id="fv3t5"><noframes id="fv3t5">
<pre id="fv3t5"></pre>

<pre id="fv3t5"></pre>
<p id="fv3t5"></p>
<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"><delect id="fv3t5"></delect></output></pre>

<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></output></pre>

<noframes id="fv3t5"><pre id="fv3t5"></pre>

<p id="fv3t5"></p>
<p id="fv3t5"><output id="fv3t5"><output id="fv3t5"></output></output></p>

<p id="fv3t5"></p>

<pre id="fv3t5"></pre>
在線客服
021-64283335

首頁> > 產品中心 > 高精度納米拉伸系統Nano UTM T150

    1. +
      1. 便攜式AFM
      2. 小樣品AFM
      3. 大樣品AFM
      4. 全自動AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光誘導力顯微鏡IR/SNOM/TERS
      7. 掃描熱學顯微鏡
      8. 掃描微波阻抗顯微鏡
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列臺階儀
      2. P系列臺階儀
      +
      1. Zeta系列光學輪廓儀
      2. 白光干涉儀
      +
      1. 單點厚度測量
      2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
      3. 自動厚度測量系統
      4. 在線厚度測量系統
      5. 橢偏儀
      6. 棱鏡耦合儀
      +
      1. 表面等離子共振顯微鏡
      2. 表面等離子共振儀
      +
    2. +
    3. +
    +
    1. +
      1. 納米拉伸儀
      +
      1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
      +
      1. 原位拉伸臺
      2. In-SEM納米操作機
      3. In-SEM納米壓痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研發臺
      2. 手動探針臺
      3. 半自動探針臺
      +
      1. 示波器
      2. 矢量網絡分析儀
      3. 頻譜分析儀
      4. 功率分析儀
      5. 參數分析儀
      6. 誤碼率測試儀
      7. 相干光信號分析儀
      8. 頻率計數器
      +
      1. 探針及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力顯微鏡
      +
      1. In-SEM納米壓痕
      2. In-SEM 納米操作機
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    11. +
    12. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
      1. 電鏡樣品清洗機
      2. 等離子清洗機
      3. 紫外臭氧清洗機
      +
      1. 被動隔震臺
      2. 主動隔震臺
      +
      1. 樣品切割
      2. 鑲嵌
      3. 研磨拋光
      +
      1. 工業/測量顯微鏡
      2. 視頻顯微鏡
      3. 金相顯微鏡
      4. 偏光顯微鏡
      5. 立體/體視顯微鏡
      6. USB顯微鏡
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮氣柜
      +
    +
      1. AFM探針
      2. AFM標樣基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔載網
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探針
      +
      1. 光柵模板
      2. 點陣模板
      3. 孔狀模板
      4. 納米壓印膠
      +
    1. +
    +
高精度納米拉伸系統Nano UTM T150
品 牌 :KLA Instruments
型 號 :Nano UTM T150
產 地 :美國
關鍵詞 :納米拉伸壓縮、單根纖維表征、楊氏模量、屈服點、失效強度、應變速率

高精度納米拉伸壓縮系統——KLANano UTM T150 納米力學測試系統適用于對多種材料的微納米力學特性進行表征。具備靜態、動態拉伸等多種功能,連續動態分析模塊提供一種操作簡單且性能可靠的試驗方法。在連續拉伸和壓縮過程中的不同應變狀態下,對材料的動態力學特性進行測試分析,可快速獲得材料的儲存模量、損耗模量、損耗因子等。采用設計特的納米力學激勵傳感器,系統將簡諧力疊加在靜態力上,通過傳感器內置的電容檢測器,對振幅進行實時監控。其振動頻率遠高于傳統試驗機利用橫梁施加的振動頻率,根據載荷和位移的變化關系,系統可自動獲得樣品的儲存模量、損耗模量。T150系統支持行業內大的動態載荷范圍(500mN),和市場上高的測試精度(儲存模量和損耗模量的測試范圍橫跨5個數量級),通過對各點進行精確測量,可對多種材料的動態性能進行分析。

 

 

 

該產品屬于高精度力學測試設備,在微米、納米量級對纖維、納米線進行微納米尺度的拉伸測試分析,對力的分辨率、精度具有非常高的要求,微觀特性測試須要求設備具有高精度的力學傳感器,力的分辨率才可以達到納牛級。同時,T150系統的操作界面友好,使用方便,內置的標準測試方法簡單易用。


亚洲第一网站在线观看