X12半自動探針臺是一款專業應對各類先進芯片性能測試的綜合型高效半自動晶圓探針臺，集成了電學、光波、微波等多功能，具有目前行業較高的溫寬區和測試精度，可匹配多種測試應用環境

應用方向

X12半自動探針臺設備專業應對12"、8"、6"的晶圓Si/GaN/SiC等各類器件的先進芯片性能測試，可配備相應的儀器儀表，進行I-V、C-V、光信號、RF、1/f噪聲等特性分析，設備功能豐富，可升級大功率晶圓測試、射頻測試、全自動測試，并可加載溫控系統，滿足客戶在高低溫環境下的各種晶圓器件性能測試需求。