隨著近些年對于納米光子學、表面等離較為化激元、二維材料以及范德華異質結構等領域的深入研究，掃描近場光學顯微鏡 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成為研究這些領域的不可或缺的表征手段。雖然掃描近場光學顯微鏡在散射式模式(s-SNOM)下的空間分辨率有了很大的提升，但是在實際使用上仍然得十分繁雜。在這一背景下，美國Molecular Vista應運而生，推出了全新一代散射式掃描近場光學顯微鏡Vista-SNOM！
有別于傳統的掃描近場光學顯微鏡，Vista-SNOM基于專用的光誘導力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術，通過檢測探針與樣品之間的偶較為交互直接獲得樣品表面的場強分布，無需遠場光學探測器。這不僅杜絕了遠場信號的干擾，也無需像SNOM那樣配置多個不同波段光學探測器。光誘導力顯微鏡的檢測端可無縫適應紫外～射頻，用戶僅需考慮如何將激發光激發至樣品。
Vista-SNOM在光誘導力顯微鏡模式下實測的場強結果與模擬結果高度吻合，同時也具備了s-SNOM模式。這使得科研人員可以將PiFM場強結果與s-SNOM場強結果進行對比分析。
s-SNOM 散射式掃描近場光學顯微鏡案例
下圖為金鋁二聚體分別在480nm和633nm不同偏振方向激發后的場強分布，圖a,b的實測場強與圖c,d的理論模擬是否吻合，金鋁二聚體間隔僅為5nm!
“Wavelength-dependent Optical Force Imaging of Bimetallic Al-Au Heterodimers, Nano Lett. 2018”
上面提到拉曼信號的增強主要源于局域表面等離子體共振(LSPR)的電磁場增強，下圖為基于銀顆粒陣列的表面增強拉曼襯底(SERS)的場強分布，圖f的FWHM結果顯示光誘導力顯微鏡實現了3.1nm的空間分辨。
Fabrication and near-field visualization of a waferscale dense plasmonic nanostructured array, RSC Adv. 2018”
