Zeta-20 臺式光學輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測量系統。該系統采用ZDot? 技術和 Multi-Mode (多模式)光學系統，可以對各種不同的樣品進行測量：透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理，以及納米至毫米級別的臺階高度。
Zeta-20 的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學量測技術。ZDot? 測量模式可同時采集分辨率 3D 數據和 True Color（真彩）無限遠焦點圖像。其他3D 測量技術包括白光干涉測量、Nomarski 干涉對比顯微鏡和剪切干涉測量。ZDot 或集成寬帶反射儀都可以對薄膜厚度進行測量。Zeta-20 也是顯微鏡，可用于樣品復檢或自動缺陷檢測。 Zeta-20 通過提供臺階高度、粗糙度和薄膜厚度的測量以及缺陷檢測功能，適用于研發及生產環境。
主要功能
臺階高度：納米到毫米級別的3D臺階高度
紋理：平滑到非常粗糙表面的粗糙度和波紋度
外形：3D翹曲和形狀
應力：2D薄膜應力
薄膜厚度：30nm到100μm透明薄膜厚度
缺陷檢測：捕獲大于1μm的缺陷
缺陷復檢：采用KLARF文件作為導航以測量缺陷的3D表面形貌或切割道缺陷位置
技術特點
Zeta-20 是采用 ZDot 和 Multi-Mode（多模式）光學器件的簡單易用的光學輪廓儀，具有廣泛的應用：
- 可用于樣品復檢或缺陷檢測
- Z-Dot：同時采集分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像
- ZXI：白光干涉測量技術，適用于Z向分辨率高的廣域測量
- ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數據
- ZSI：剪切干涉測量技術提供z向圖像
- ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率
- AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化
- 生產能力：通過測序和圖案識別實現全自動測量
技術能力
肖特玻璃-表面粗糙度
可用來測試玻璃等透明表面及不透明表面的形貌和表面粗糙度。
太陽能電池–不同反射率表面形貌測量
輕松獲得復雜差異化反射率樣品的表面形貌。
MEMS器件–臺階高度和粗糙度
小尺寸樣品nm級臺階精度，大尺寸樣品的亞微米臺階精度。
鏡頭-完整的表面輪廓
圖像拼接功能，可獲得大面積樣品的完整表面輪廓。
高分子薄膜-膜厚測量
可用于PI和PR薄膜的厚度測量，并可生成整片晶圓上的膜厚mapping。
藍寶石-圖案化晶片表面缺陷
可對特定缺陷進行三維輪廓掃描并進行相關測量，并對晶圓表面缺陷按尺寸、亮度、長寬比等進行分布統計并生成mapping。
部分用戶
- 南京大學
- 南京郵電大學
- 麻省理工學院
- 加州大學達拉斯分校
- 耶魯大學
- 德州大學奧斯汀分校
- 西部數據
- 應用材料
- 博世
- 萊徹斯特大學
- 希捷
相關文獻
1. Maxym V.Rukosuyev, et al. One-step fabrication of superhydrophobic hierarchical structures by femtosecond laser ablation. Applied Surface Science. 2014,313,411-417.
2. H. N. Shubha, et al. Preparation of Self Assembled Sodium Oleate Monolayer on Mild Steel and Its Corrosion Inhibition Behavior in Saline water. ACS Appl. Mater. Interfaces .2013,5,21,10738-10744.
3. Marta Palacios-Cuesta, et al. Fabrication of Functional Wrinkled Interfaces from Polymer Blends: Role of the Surface Functionality on the Bacterial Adhesion. Polymers. 2014, 6,11, 2845-2861.
4. Alberto Gallardo, et al. Chemical and Topographical Modification of Polycarbonate Surfaces through Diffusion/Photocuring Processes of Hydrogel Precursors Based on Vinylpyrrolidone. Langmuir .2017,33 ,7, 1614-1622.
5. Aurora Nogales, et al. Wrinkling and Folding on Patched Elastic Surfaces: Modulation of the Chemistry and Pattern Size of Microwrinkled Surfaces. ACS Appl. Mater. Interfaces. 2017,9,23,20188-20195.
6. Olga Kraynis, et al. Suitability of Raman Spectroscopy for Assessing Anisotropic Strain in Thin Films of Doped Ceria. Adv. Funct. Mater. 2019, 1804433,2-7.
