在同級產品中，Park XE7 能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于原子力顯微鏡架構，即立的 XY 軸和 Z 軸柔性掃描器，XE7 能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park 的True Non-Contact? 模式可以使探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

    Park XE7 擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具，即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理，XE7 能夠全力推動研究生產力的提高。

    Park XE7 中所搭載的 True Non-Contact? 模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針尖端，并且它配有多功能的掃描模式，兼容性較為佳，讓您可隨時升級系統功能，從而延長產品的使用壽命。

    特的產品特點

1）Smartscan智能掃描模式，“1，2，3”點擊即可實現成像

2）Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式，更優越的力學形貌成像及各種電學測試

3）強大的內置集成軟件系統，自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

    技術特點

1. XY 軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆，可在保持平面外運動少的情況下，實現高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應度。緊湊且堅固的結構是為了低噪聲高速伺服回應而設計的；

2. Z 軸掃描范圍可從標準的12 μm增至40μm（選購遠距離 Z 軸掃描器）

3. 燕尾式軌道設計，輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。

4. 在手動 XY 軸樣品臺的控制下，樣品的測量定位變得簡單。XY 軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm；

5. 原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的 Park XE 電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設計和高速處理單元，Park XE 電子控制器成功實現了True Non-Contact? 模式，這是納米級成像和電壓電流測量的必要選擇。

    主要功能模式

    標準成像，力學測試、機械性能，化學性能、電性能，光性能（TERS）、熱性能等。

        Park XE7不同的選項適合于多種的研究，以下對石墨烯不同性能的測試：

    納米材料的光譜學研究