<noframes id="fv3t5">
<menuitem id="fv3t5"></menuitem>

<p id="fv3t5"></p>

<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"></output></pre>
<p id="fv3t5"></p>

<p id="fv3t5"><output id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></output></p>
<p id="fv3t5"></p>
<pre id="fv3t5"></pre>
<pre id="fv3t5"></pre>

<noframes id="fv3t5"><p id="fv3t5"><delect id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></delect></p>

<address id="fv3t5"><p id="fv3t5"></p></address>

<pre id="fv3t5"><p id="fv3t5"></p></pre><noframes id="fv3t5"><noframes id="fv3t5">
<pre id="fv3t5"></pre>

<pre id="fv3t5"></pre>
<p id="fv3t5"></p>
<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"><delect id="fv3t5"></delect></output></pre>

<pre id="fv3t5"><output id="fv3t5"><menuitem id="fv3t5"></menuitem></output></pre>

<noframes id="fv3t5"><pre id="fv3t5"></pre>

<p id="fv3t5"></p>
<p id="fv3t5"><output id="fv3t5"><output id="fv3t5"></output></output></p>

<p id="fv3t5"></p>

<pre id="fv3t5"></pre>
在線客服
021-64283335

首頁> > 產品中心 > NX10 高精度原子力顯微鏡

    1. +
      1. 便攜式AFM
      2. 小樣品AFM
      3. 大樣品AFM
      4. 全自動AFM
      5. 生物型AFM
      6. 光誘導力顯微鏡IR/SNOM/TERS
      7. 掃描熱學顯微鏡
      8. 掃描微波阻抗顯微鏡
      9. AFM In-SEM
      +
      1. D系列臺階儀
      2. P系列臺階儀
      +
      1. Zeta系列光學輪廓儀
      2. 白光干涉儀
      +
      1. 單點厚度測量
      2. 微米(顯微)級光斑尺度厚度測量
      3. 自動厚度測量系統
      4. 在線厚度測量系統
      5. 橢偏儀
      6. 棱鏡耦合儀
      +
      1. 表面等離子共振顯微鏡
      2. 表面等離子共振儀
      +
    2. +
    3. +
    +
    1. +
      1. 納米拉伸儀
      +
      1. 原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
      +
      1. 原位拉伸臺
      2. In-SEM納米操作機
      3. In-SEM納米壓痕
      +
    2. +
    +
    1. +
      1. 小型研發臺
      2. 手動探針臺
      3. 半自動探針臺
      +
      1. 示波器
      2. 矢量網絡分析儀
      3. 頻譜分析儀
      4. 功率分析儀
      5. 參數分析儀
      6. 誤碼率測試儀
      7. 相干光信號分析儀
      8. 頻率計數器
      +
      1. 探針及配件
      +
    +
      1. In-SEM原子力顯微鏡
      +
      1. In-SEM納米壓痕
      2. In-SEM 納米操作機
      +
      1. 原位芯片及Holder
      +
    1. +
    2. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
    4. +
    5. +
    6. +
    7. +
    8. +
    9. +
    10. +
    11. +
    12. +
    +
    1. +
    2. +
    3. +
      1. 電鏡樣品清洗機
      2. 等離子清洗機
      3. 紫外臭氧清洗機
      +
      1. 被動隔震臺
      2. 主動隔震臺
      +
      1. 樣品切割
      2. 鑲嵌
      3. 研磨拋光
      +
      1. 工業/測量顯微鏡
      2. 視頻顯微鏡
      3. 金相顯微鏡
      4. 偏光顯微鏡
      5. 立體/體視顯微鏡
      6. USB顯微鏡
      +
      1. 干燥箱
      2. 氮氣柜
      +
    +
      1. AFM探針
      2. AFM標樣基底
      +
      1. 氮化硅薄膜窗口
      2. Quantifoil多孔載網
      3. TEM耗材
      4. SEM耗材
      5. X-ray耗材
      +
      1. GGB探針
      +
      1. 光柵模板
      2. 點陣模板
      3. 孔狀模板
      4. 納米壓印膠
      +
    1. +
    +
NX10 高精度原子力顯微鏡
品 牌 :Park
型 號 :NX10
產 地 :韓國
關鍵詞 :原子力顯微鏡,AFM,掃描探針顯微鏡,SPM,表面形貌

    Park NX10 為您帶來納米級分辨率的數據,值得您信賴、使用和擁有。

    在 SmartScan Auto 有的智能模式下,系統自動執行所有必要的成像操作,同時智能選擇好的圖像質量和掃描速度。這是通過Park的技術才得以實現的。它不僅可以為您節省時間和金錢,還可以給您帶來優質的研究結果。

    Park NX10是非接觸式原子力顯微鏡,在延長探針使用壽命的同時,還能良好地保護您的樣品不受損壞??蓮澢牧?nbsp;XY 掃描儀和Z掃描儀可帶來良好的分辨率。

    Park 原子力顯微鏡具有綜合性的掃描模式,因此您可以有效地收集各種數據類型。從使用世界上的真非接觸模式用來保持探針的尖銳度和樣品的完整性,到先進的磁力顯微鏡, Park 在原子力顯微鏡領域為您提供創新模式.



產品特


1)Smartscan智能掃描模式,1,2,3點擊即可實現成像

2)Pinpoint Nanomechanical力控出圖模式,更優越的力學形貌成像及各種電學測試

3)強大的內置集成軟件系統,自帶LFM/液相AFM/MFM/EFM/KPFM/Force Curve軟件模式

 

      基本技術特點


a) 掃描范圍是 50μm x 50μm的 2D 掃描器,驅動 XY 軸樣品臺

b) 高速Z軸掃描器,掃描范圍 15μm

c) 低噪聲 XYZ 位置傳感器(低噪聲XY閉環掃描可將正向掃描和反向掃描間隙降至掃描范圍的 0.15% 以下)

d) 自動步進掃描,滑動嵌入 SLD 鏡頭的自主固定方式,

e) 垂直調節驅動 平臺和聚焦平臺

    

    選項/模式

標準成像

化學性能

介電/壓電性能

?   實際非接觸式

?   接觸式

?   側向摩擦力顯微技術(LFM

?   相位模式,輕敲模式

?   Pinpoint成像

?   功能化探針的化學力顯微鏡

?   電化學顯微鏡(EC-STMEC-AFM)

?  (EFM)靜電力顯微鏡

?  動態接觸式電子顯微鏡(EFM-DC

?  PFM)壓電力顯微鏡

?   高電壓PFM

力測量

磁性能

熱性能

?   -距離(F-D)光譜

?   力譜成像

?   磁力顯微鏡

?   可調AFM

?   掃描熱顯微鏡SThM

電性能

機械性能

?   Pinpoint 導電AFMCP-AFM

?   I-V譜線

?   掃描開爾文探針顯微鏡KPFM

?   QuickStep掃描電容顯微鏡SCM

?   掃描電阻顯微鏡SSRM

?   掃描隧道顯微鏡STM

?   掃描隧道光譜STS

?   光電流測繪PCM

?   SICMcurrent-distanceI/dSpectroscopy

?   Pinpoint模式

?   力調制顯微鏡FMM

?   壓痕,納米刻蝕

?   高壓納米刻蝕

?   納米操縱









亚洲第一网站在线观看